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   高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的 一項測試箱。
 
        高低溫沖擊試驗箱分為高溫箱，低溫箱，測試箱三部分，采  之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷，熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。采用采用 先 進(jìn)的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單，學(xué)習(xí)容易，穩(wěn)定可靠。中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定，沖擊時間999h59min。     可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。
 
        高低溫沖擊試驗箱可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜。出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制，風(fēng)門機構(gòu)切換時間為10s內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。每個產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設(shè)備的高效節(jié)能，并在現(xiàn)場調(diào)試和驗收，保證用戶方的使用性能。運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時，螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障點及原因和提供排除故障的方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時，具有緊急停機裝置 。
 
一、試驗?zāi)康?/strong>
 
  確定設(shè)備(產(chǎn)品)在周圍大氣溫度急劇變化時的適應(yīng)性。
 
 二、試驗條件
 
1、試驗溫度：高溫為70℃;低溫為-55℃。   2、試驗溫度保持時間：1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長者為準(zhǔn)。   3、轉(zhuǎn)換時間：＜5min。   4、循環(huán)次數(shù)：3次。
 
 三、對試驗箱(室)的要求
 
本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用冷熱沖擊試驗箱(室)或采用高溫試驗箱(室)和低溫試驗箱(室)進(jìn)行冷熱沖擊試驗，以提供試驗樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。  
 
 1、高溫試驗箱(室)的要求，應(yīng)符合GJB150.3-86《 設(shè)備環(huán)境試驗方法高溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
 
 2、低溫試驗箱(室)的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《 設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
 
 3、冷熱沖擊試驗箱(室)提供高溫試驗部分和低溫試驗部分，應(yīng)分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
 
 4、試驗箱(室)的容積應(yīng)保證在試驗樣品放入候補超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗條件容差范圍之內(nèi)。

四、恢復(fù)試驗樣品
        從試驗箱(室)內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

高低溫沖擊試驗箱用途：
 
  高低溫沖擊試驗箱適用于科研、學(xué)校、工廠等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應(yīng)性試驗。
 
高低溫沖擊試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
 
高低溫沖擊試驗箱符合GJB150.3 設(shè)備環(huán)境試驗方法-高溫試驗、GJB150.4 設(shè)備環(huán)境試驗方法-低溫試驗、GJB150.5 環(huán)境試驗方法溫度沖擊試驗、GB/T2423.1低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法、GB10592高低溫試驗箱技術(shù)條件等國家標(biāo)準(zhǔn)。