復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的故障減少方法
更新更新時(shí)間:2022-03-04 點(diǎn)擊次數(shù):699次
減少?gòu)?fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的故障就要了解這些故障產(chǎn)產(chǎn)生原因;很多電子元件隨著工作時(shí)限延長(zhǎng)可能發(fā)生退化性的失效,而鹽霧試驗(yàn)箱的元件退化性失效所包括的范圍較廣,主要有如下幾個(gè)特征:某些參數(shù)隨著工作時(shí)間的延長(zhǎng)或工作環(huán)境的變動(dòng),其參數(shù)發(fā)生漂移,造成時(shí)而工作正常,時(shí)而工作不正常的情況。產(chǎn)生這些故障的原因主要為:
1、由于負(fù)荷超過(guò)其內(nèi)部承受能力和使用保養(yǎng)不當(dāng)而產(chǎn)生的結(jié)果。
2、電子元件失效普遍的是存在品質(zhì)與技術(shù)缺陷。
3、環(huán)境因素作用,包括溫度、濕度、電壓及光照等。
以上三種情況是導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱產(chǎn)生故障的主要原因,可以說(shuō)電子元件的好壞直接關(guān)系到儀器設(shè)備的質(zhì)量?jī)?yōu)劣。